Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies by Stewart E. Rauch Paperback Book
+ 22,49 € Αποστολή
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies by Stewart E. Rauch Paperback Book
- Μάρκα: Unbranded
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies by Stewart E. Rauch Paperback Book
- Μάρκα: Unbranded
Δεχόμαστε τους ακόλουθους τρόπους πληρωμής
Περιγραφή
- Μάρκα: Unbranded
- Κατηγορία: Επιστήμη, Ιατρική & Φύση
-
Szerző: Stewart E. Rauch
-
Nyelv: English
-
Kiadó / Kiadó: John Wiley & Sons In
-
Formátum: Hardback
-
Megjelenés dátuma: 2009-09-04
- Fruugo ID: 209660697-446961850
- ISBN: 9780471731726
Παράδοση & Επιστροφές
Αποστέλλεται σε 24 ώρες
-
STANDARD: 22,49 € - Παράδοση μεταξύ Τρί 04 Νοεμβρίου 2025–Δευ 10 Νοεμβρίου 2025
Αποστέλλεται από Ηνωμένο Βασίλειο.
Κάνουμε ό,τι καλύτερο μπορούμε για να εξασφαλίσουμε ότι τα προϊόντα που παραγγέλνετε αποστέλλονται σε εσάς πλήρως και σύμφωνα με τις προδιαγραφές σας. Παρ' όλα αυτά, αν παραλάβετε μία ελλιπή παραγγελία ή προϊόντα διαφορετικά από αυτά που παραγγείλατε ή αν υπάρχει κάποιος άλλος λόγος που δεν είστε ικανοποιημένοι με την παραγγελία, μπορείτε να την επιστρέψετε ολόκληρη ή κάποια προϊόντα από αυτή και να λάβετε πλήρη επιστροφή χρημάτων για τα προϊόντα. Προβολή πλήρους πολιτικής επιστροφών
Details zur Produktkonformität
Bitte beachten Sie die unten aufgeführten Konformitätsinformationen zu diesem Produkt.
Die folgenden Informationen werden vom unabhängigen Drittanbieter bereitgestellt, der dieses Produkt verkauft.
Κατασκευαστής:
Οι παρακάτω πληροφορίες αφορούν τα στοιχεία επικοινωνίας του κατασκευαστή του σχετικού προϊόντος που πωλείται στο Fruugo.
- John Wiley & Sons Inc
- John Wiley & Sons Inc
- 851 Trafalgar Ct, Maitland
- Florida
- US
- 32751
- customer@wiley.com
- 877 762 2974
- https://www.ingramcontent.com/pod-product-compliance